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基于非晶硒直接探測的全場X射線衍射動態(tài)成像
本文提出了一種用于暗場X射線顯微鏡(DFXM)的新型直接檢測方法，該方法可以實現(xiàn)納米尺度分辨率并且相比傳統(tǒng)的閃爍體光學轉(zhuǎn)換檢測具有更短的曝光時間。作者使用加拿大KAI的新型探測器展示了這種直接檢測方法的能力，該探測器可以直接捕捉高能X射線圖像并具有高量子效率。他們使用一個薄膜YBCO樣品作為測試案例，將這種直接檢測系統(tǒng)的性能與標準的閃爍體光學轉(zhuǎn)換檢測系統(tǒng)進行了對比，包括曝光時間、分辨率和特征檢測。結(jié)果表明，直接檢測方法可以將曝光時間縮短一個數(shù)量級，從而實現(xiàn)對弱衍射有序物質(zhì)的成像，同時在中觀尺度上保持合理的空間分辨率。
24
2025-03
便攜X光檢測"黑科技"：三層平板探測器單次雙能減影成像新技術(shù)
發(fā)布時間：2025/03/24
本文評估了便攜式三層平板探測器（FPD）用于單次雙能量減影（DES）成像的可行性。DES成像可以減少解剖噪聲并實現(xiàn)材料分類，但目前的方法存在運動偽影、靈敏度低和缺乏便攜性等弊端。所提及的三層探測器每次曝光可生成三張圖像：一張數(shù)字放射圖像（DR）和兩張DES圖像（骨骼和軟組織），沒有運動偽影，并且相比雙層探測器具有更高的劑量效率。本文使用調(diào)制傳遞函數(shù)（MTF）和探測量子效率（DQE）等圖像質(zhì)量指標對該探測器進行了評估，并進行了臨床病例研究。結(jié)果表明，該探測器可產(chǎn)生高質(zhì)量的DR圖像和DES圖像，提高了臨床應用中的靈敏度，實現(xiàn)了便攜式或困難環(huán)境下的DES成像。
21
2025-02
非晶硒探測器：搭建納米尺度X射線衍射成像直接探測系統(tǒng)
發(fā)布時間：2025/02/21
本文的實驗是在美國阿貢國家實驗室完成的，該實驗室安裝了4套BrillianSe a-Se非晶硒直接探測器。本文介紹了一種用于全場景納米尺度X射線衍射對比成像的直接檢測方法，采用了由KA Imaging Inc.開發(fā)的一種新型8微米像素間距的直接探測器。該方法與常用的閃爍體光學檢測方法相比，曝光時間提高了一個數(shù)量級，并實現(xiàn)了對弱衍射有序系統(tǒng)的成像。關(guān)鍵技術(shù)包括使用聚合物復合折射透鏡(pCRL)目鏡、一種量子效率高達20 keV的16百萬像素非晶硒(a-Se)直接探測器，以及對直接和間接檢測方案在曝光時間、分辨率和特征檢測等性能指標之間的比較。
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